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  • 測試探針PAL50-A

    測試探針PAL50-A

    產(chǎn)品名稱：PL50-A、PAL50-A
    所屬分類：測試探針
    產(chǎn)品簡介：測試探針外徑為0.68mm，頂針總長為28.0mm測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針
    產(chǎn)品介紹（產(chǎn)品概述）:
    針管:磷銅管鍍金
    彈簧：不銹鋼線
    針桿：鈹銅或SK4鍍金或銠
    套管：磷銅鍍金
    鉆孔尺寸：0.90mm
    額定電流：3安培
    接觸電阻：50毫歐姆
    接觸彈力：100g
    訂購熱線：400-183-6682

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探針為什么使用一段時(shí)間后電阻值增大？

探針為什么使用一段時(shí)間后電阻值增大？

探針使用一段時(shí)間后電阻值增大，主要有以下幾方面原因：1. 氧化- 當(dāng)探針與空氣或其他氧化劑接觸時(shí)，其表面可能會(huì)發(fā)生氧化反應(yīng)。例如，金屬探針在空氣中長時(shí)間放置，會(huì)與氧氣反應(yīng)生成金屬氧化物，這些氧化物的導(dǎo)電性通常比純金屬差，從而形成絕緣層或高電阻層，導(dǎo)致探針的電阻值增大。- 即使是一些抗氧化性能較好的材料制成的探針，在長期使用過程中，也會(huì)逐漸吸附一定量的氧氣或其他氧化性物質(zhì)，進(jìn)而改變其表面的化學(xué)組成和電阻率。2. 磨損- 在頻繁使用或與其他物體接觸、摩擦的過程中，探針的表面會(huì)逐漸磨損。磨損會(huì)破壞探針表面的完整性，使導(dǎo)電通路受損或變窄，增加電流通過時(shí)的阻力，導(dǎo)致電阻值上升。比如，用于測試電路板上焊點(diǎn)的探針，在多次接觸焊點(diǎn)后，其尖端可能會(huì)磨損，從而使接觸電阻增大。- 長期的磨損還可能導(dǎo)致探針表面的粗糙度增加，進(jìn)一步影響

2025-03-11

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